DAKOTA/达高特CMX2-DL超声波测厚仪

 

美国DAKOTA达高特CMX2-DL超声波测厚仪，是一款高性能双通道超声波测厚仪，作为CMXDL+的升级替代产品。它采用独特的双通道设计，支持包括穿透涂层测量在内的多种先进模式，可在不除去油漆或涂层的情况下，直接、精准地测量基材厚度。仪器集高速扫描、B扫描成像与大容量存储于一身，专为高效、便捷的工业无损检测而设计。

CCMX2-DL超声波测厚仪基于100MHz数字信号处理平台，测量精度高达0.01mm。其具备250Hz高速刷新率、4GB内置存储及USB Type-C接口，确保现场检测数据实时、稳定且传输便捷。坚固的机身与宽温工作范围使其能可靠应用于石化、电力、造船等行业的储罐、管道及压力容器壁厚检测与监控。

特点：

- 基于FPGA技术的100MHz数字信号处理平台设计

- 双通道-双脉冲发生器和接收器

- 250Hz脉冲重复频率（PRF）

- CMX2-DL，1/8英寸VGA灰度显示
  CMX3-DL，1/4英寸VGA彩色显示

- 屏幕刷新率：灰度25Hz，彩色60Hz
  100dB可调增益范围，自动增益控制（AGC）

- 时间相关增益（TDG），具有可调的斜率

- 双晶探头和单晶探头

- 内置4GB SD卡

- USB Type-C数据接口

- 美国制造

- CMX2-DL替代CMXDL+
  CMX3-DL替代CMXDL+彩屏版

DAKOTA CMX2-DL多功能超声波测厚仪参数：

测量	脉冲-回波（P-E）模式测量范围：0.63mm~30.48mm（钢）
	脉冲-回波涂层（PETC）模式测量范围：0.63~30.48mm（钢），0.0254~2.54mm（涂层）
	脉冲-回波温度补偿（PETP）模式，测量范围：0.63mm~30.48mm（钢）
	回波-回波（E-E）模式测量范围：2.54~152.4mm（钢，穿过涂层测量，范围取决于涂层）
	回波-回波验证（E-EV）模式测量范围：2.54~102mm（钢，穿过涂层测量，范围取决于涂层）
	测量涂层（CT）模式测量范围：0.0127~2.54mm（涂层）
	分辨率：0.01mm和0.001mm
	声速范围：309.88~18542m/s
	单位：公制或英制
	一点和两点校准方式
显示	CMX2-DL：1/8英寸VGA灰度显示屏，240x160像素  可视区62x45.7mm，EL背光，25Hz刷新频率  CMX3-DL：1/4英寸 AMOLED彩色显示屏，320x240像素  可视区43.2x57.6mm，60Hz刷新频率
	A-扫描方式：检波+/-（缺陷现场），RF（全波现场）  纵向和横向视图（CMX3-DL）
	B-扫描方式：基于时间的横截面视图，显示速度位每秒10到200个读数
	大数字方式：标准厚度显示，数字高度17.78mm（CMX2-DL）和14.35mm（CMX3-DL）
	厚度条形扫描：速度33Hz，在B-扫描和大数字显示模式中可见
	稳定度指示：表示测量值的稳定性
	功能状态指示：显示当前激活的功能
超声波参数	测量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT模式
	脉冲：可调方波脉冲发生器
	接收：根据选择模式采用手动调节增益或自动增益控制（AGC），范围110dB
	阻抗50~1500Ω可调
	计时：单次100MHz 8位超低功耗数字化仪的精确TCXO计时
	脉冲重复频率：250Hz
探头	频率范围：1~20MHz
	探头种类：  双晶探头  延迟块、接触式、笔形单晶探头
	LEMO接口，1.2米探头线
存储	容量：内置4GB SD卡
	数据结构：网格（字母数字）和顺序（自动识别）
	截屏功能：位图图形捕获，用于快速记录
	数据输出：通过USB Type-C传输到计算机
其他	键盘：12个触摸键
	电源：标准配置为三节5号碱性电池，电量状态指示。  无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电
	外壳：挤压铝机壳，底盖用镀镍铝板加密封垫封装
	工作温度：-10~60℃
	尺寸：63.5x165x31.5mm
	重量：385g（包括电池）
	符合NIST和MILSTD-45662A标准

常规可选探头：

探头型号	频率	晶片直径	说明
T-102-2900	5.0MHz	晶片∅6.35mm，防磨面∅9.53mm  测量范围：1.0~152.4mm	标准CT双晶探头（随机标准配置，可测涂层）
T-402-5507	15MHz	晶片∅6.35mm	单晶接触式探头
T-4023-2855	5MHz	晶片∅6.35mm	单晶接触式探头
T-4023-4855	10MHz	晶片∅6.35mm	单晶接触式探头