达高特超声波测厚仪
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美国DAKOTA达高特CMX3-DL超声波测厚仪便携式高精度测厚仪实物图

DAKOTA/达高特CMX3-DL超声波测厚仪

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DAKOTA CMX3-DL超声波测厚仪 替代原 CMXDL+彩屏版
彩屏显示,可穿透涂层测量
双通道高精度超声波测厚仪
CMXDL+彩屏升级版,美国原装
专业级高分辨率,小巧便携,精准测厚


 

美国DAKOTA达高特CMX3-DL超声波测厚仪,是一款高性能彩屏测厚仪,专为精确测量而设计。它采用先进的100MHz数字信号处理技术和FPGA平台,提供高达0.001mm的测量分辨率。仪器支持脉冲-回波、回波-回波等多种测量模式,能有效穿透涂层测量基材厚度,或直接测量涂层厚度,满足复杂工业检测需求。其1/4英寸AMOLED彩色显示屏刷新率达60Hz,显示清晰流畅,并内置4GB存储卡,数据可通过USB Type-C接口便捷传输。


CMX3-DL超声波测厚仪具备双通道脉冲发生器与接收器,增益调节范围达110dB,并拥有时间相关增益功能。仪器工作温度范围宽(-10~60℃),坚固耐用,兼容1-20MHz多种双晶及单晶探头。适用于石油化工、航空航天、电力及制造业的现场厚度检测与腐蚀监控,是进行高精度、高可靠性无损检测的理想工具。


特点:

- 基于FPGA技术的100MHz数字信号处理平台设计

- 双通道-双脉冲发生器和接收器

- 250Hz脉冲重复频率(PRF)

- CMX2-DL,1/8英寸VGA灰度显示
  CMX3-DL,1/4英寸VGA彩色显示

- 屏幕刷新率:灰度25Hz,彩色60Hz
  100dB可调增益范围,自动增益控制(AGC)

- 时间相关增益(TDG),具有可调的斜率

- 双晶探头和单晶探头

- 内置4GB SD卡

- USB Type-C数据接口

- 美国制造

- CMX2-DL替代CMXDL+
  CMX3-DL替代CMXDL+彩屏版


DAKOTA CMX3-DL多功能超声波测厚仪参数:

 测量  脉冲-回波(P-E)模式测量范围:0.63mm~30.48mm(钢)
 脉冲-回波涂层(PETC)模式测量范围:0.63~30.48mm(钢),0.0254~2.54mm(涂层)
 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式,测量范围:0.63mm~30.48mm(钢)
 回波-回波(E-E)模式测量范围:2.54~152.4mm(钢,穿过涂层测量,范围取决于涂层)
 回波-回波验证(E-EV)模式测量范围:2.54~102mm(钢,穿过涂层测量,范围取决于涂层)
 测量涂层(CT)模式测量范围:0.0127~2.54mm(涂层)
 分辨率:0.01mm和0.001mm
 声速范围:309.88~18542m/s
 单位:公制或英制
 一点和两点校准方式
 显示  CMX2-DL:1/8英寸VGA灰度显示屏,240x160像素
 可视区62x45.7mm,EL背光,25Hz刷新频率
 CMX3-DL:1/4英寸 AMOLED彩色显示屏,320x240像素
 可视区43.2x57.6mm,60Hz刷新频率
 A-扫描方式:检波+/-(缺陷现场),RF(全波现场)
 纵向和横向视图(CMX3-DL)
 B-扫描方式:基于时间的横截面视图,显示速度位每秒10到200个读数
 大数字方式:标准厚度显示,数字高度17.78mm(CMX2-DL)和14.35mm(CMX3-DL)
 厚度条形扫描:速度33Hz,在B-扫描和大数字显示模式中可见
 稳定度指示:表示测量值的稳定性
 功能状态指示:显示当前激活的功能
 超声波参数  测量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT模式
 脉冲:可调方波脉冲发生器
 接收:根据选择模式采用手动调节增益或自动增益控制(AGC),范围110dB
 阻抗50~1500Ω可调
 计时:单次100MHz 8位超低功耗数字化仪的精确TCXO计时
 脉冲重复频率:250Hz
 探头  频率范围:1~20MHz
 探头种类:
 双晶探头
 延迟块、接触式、笔形单晶探头
 LEMO接口,1.2米探头线
 存储  容量:内置4GB SD卡
 数据结构:网格(字母数字)和顺序(自动识别)
 截屏功能:位图图形捕获,用于快速记录
 数据输出:通过USB Type-C传输到计算机
 其他  键盘:12个触摸键
 电源:标准配置为三节5号碱性电池,电量状态指示。
 无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电
 外壳:挤压铝机壳,底盖用镀镍铝板加密封垫封装
 工作温度:-10~60℃
 尺寸:63.5x165x31.5mm
 重量:385g(包括电池)
 符合NIST和MILSTD-45662A标准

常规可选探头:

 探头型号  频率  晶片直径  说明
 T-102-2900  5.0MHz  晶片∅6.35mm,防磨面∅9.53mm
 测量范围:1.0~152.4mm
 标准CT双晶探头(随机标准配置,可测涂层)
 T-402-5507  15MHz  晶片∅6.35mm  单晶接触式探头
 T-4023-2855  5MHz  晶片∅6.35mm  单晶接触式探头
 T-4023-4855  10MHz  晶片∅6.35mm  单晶接触式探头
 
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